Lasermikrometer Xploreline.X

TILLBAKA
 
 
Lasermikrometer Xploreline.X

Lasermikrometer Xploreline.X

Xploreline.X mäter kontinuerligt diametern (D) och centrumposition (C) på delen, som kan vara opak eller transparent. Systemet används för att upptäcka sprickor på delen som mäts.

Mätexempel:

Mätning av genomsnittlig diameter och leta efter sprickor

 

Strip width mätning:
En lätt vridning av produkten kan förbättra noggrannheten.

 

Kontroll av produktens vågformiga ojämnhet:
Toppvärden och vägrörelser kan upptäckas.



Produktblad
Skriv ut sida
© 2015 KmK instrument ab | Regattagatan 8A | SE-723 48 Västerås | Tel. +46 21 150 160 | info@kmk-instrument.se