X-MET5000, Ny XRF-analysator för noggrann och pålitlig analys av element |
|
|
Denna nya analysator är framtagen för hög produktivitet och pålitlighet. Med Oxford Instruments patenterade PentaFET® detektorteknologi erbjuder den garanterat snabb analys och låg detekteringsnivå för alla intressanta element. |
Den är specialbyggd för den mest krävande kvalitetskontroll inom många områden: skrotåtervinning, analys av metaller för PMI, screening av bly i leksaker och konsumentprodukter samt RoHS komplianstestning. X-MET5000 passar även för de behov som finns i gruvsamhällen för malmutforskning, lika väl som mätning av tunga element i jord för miljöövervakning. X-MET5000’s största styrka ligger i LET (Light Element Treatment) som möjliggör snabb och noggrann analys av tunga element, även när provet innehåller lätta element som Aluminium och Silikon. Detta är inte möjligt vid användande av FP (Fundamental Parameters) på en analysator som inte kan upptäcka lätta element.
Detta robusta och pålitliga redskap är IP54 (NEMA 3) godkänt med ett överlägset damm- och stänkskydd. X-MET5000 är utmärkt för de allra hårdaste omgivningar. Batteriets arbetstid på en arbetsdag möjliggör utökad produktivitet.
Den kraftfulla programvaran som är programmerbar utifrån användaren levererar högt noggranna resultat för pålitliga Go/No-Go beslut. X-MET5000 identifierar materialtyper och väljer automatiskt den bästa analysmetoden.
Ett extra bordsstativ möjliggör ”hands-free” arbete för fleruppdragskörning utan att tappa förtroliga mätresultat.
|
|
|
|
| | |
|
