KMK_instrument_logo

START PRODUKTER TJÄNSTER NYHETER DOWNLOADS FÖRETAGET KONTAKT
 
 
 
OFP-NDT
Koerzimat left menu arrowleft menu arrow
Komponentprovning left menu arrowleft menu arrow
Magnetpulverprovning left menu arrowleft menu arrow
Ultraljud left menu arrowleft menu arrow
Virvelström left menu arrowleft menu arrow
Övrigt left menu arrowleft menu arrow
Mätteknik
Axelmätmaskiner left menu arrowleft menu arrow
Belysning left menu arrowleft menu arrow
Form och planhet left menu arrowleft menu arrow
Handmätdon left menu arrowleft menu arrow
Höjdmätare left menu arrowleft menu arrow
Konturmätare left menu arrowleft menu arrow
Kordinatmätmaskiner left menu arrowleft menu arrow
Lasermikrometer left menu arrowleft menu arrow
Lufttolkar left menu arrowleft menu arrow
Längdmätbänkar left menu arrowleft menu arrow
Mätdata insamling left menu arrowleft menu arrow
Mätmikroskop left menu arrowleft menu arrow
Profilprojektorer left menu arrowleft menu arrow
Uppspäningssystem left menu arrowleft menu arrow
Vinkel och lutningsmätning left menu arrowleft menu arrow
Visuell inspektion left menu arrowleft menu arrow
Ytjämnhetsmätare left menu arrowleft menu arrow
Övrigt left menu arrowleft menu arrow
Materialprovning
Dragprovare left menu arrowleft menu arrow
Fjäderprovning left menu arrowleft menu arrow
Hårdhetsprovning left menu arrowleft menu arrow
Provberedning left menu arrowleft menu arrow
Special
Luftmätfixturer left menu arrowleft menu arrow
Ventilsätesmätning left menu arrowleft menu arrow

SKIKTTJOCKLEKSMÄTNING

TILLBAKA
 
 

Skikttjockleksmätning CMI150

CMI150 - Handhållen precisions-skikttjockleksmätare med inbyggd automatisk probe.

Läs mer> 

Skikttjockleksmätning CMI200

Enkel och portabel handhållen precisions- skikttjockleksmätare med avancerade funktioner i klass med bordsinstrument.

Läs mer> 

Skikttjockleksmätning CMI700

Bordsinstrument för professionell precisions skikttjockleksmätning.

Läs mer> 

Skikttjockleksmätning CMI900 (Stationär)

CMI900 är en XRF- analysator för skikttjockleksmätning och materialanalys.

Läs mer> 

Skikttjockleksmätning X-Strata960 (Stationär)

En XRF-analysator för skikttjockleksmätning och materialanalys.

Läs mer> 

Skikttjockleksmätning X-Strata980 (Stationär)

Genom att kombinera en högeffekt röntgentub med en högupplösningsdetektor levererar X-Strata980 röntgen fluorescens analysator gränser för upptäckter i ensiffriga miljondelar.

Läs mer> 
 
 
 
© 2011 KmK instrument ab | Fältmätargatan 16 | SE-721 35 Västerås | Tel. +46 21 150 160 | Fax. +46 21 150 165 | info@kmk-instrument.se